工業(yè)內(nèi)窺鏡搭載3D相位掃描測(cè)量法可有效降低測(cè)量選點(diǎn)誤差
韋林工業(yè)內(nèi)窺鏡搭載了業(yè)內(nèi)先進(jìn)的測(cè)量方法，具體包括：?jiǎn)挝镧R的三維立體相位掃描測(cè)量3DPM、和三維立體雙物鏡測(cè)量技術(shù)3DPM。工業(yè)內(nèi)窺鏡搭載3D相位掃描測(cè)量法可生成真正意義上的三維還原圖，可有效降低測(cè)量選點(diǎn)誤差，比傳統(tǒng)雙物鏡測(cè)量法優(yōu)越。
使用工業(yè)內(nèi)窺鏡進(jìn)行檢測(cè)并對(duì)缺陷進(jìn)行測(cè)量時(shí)，檢測(cè)人員往往需要在圖像上選點(diǎn)，然后再進(jìn)行長(zhǎng)度測(cè)量、距離測(cè)量等操作。傳統(tǒng)雙物鏡測(cè)量，因?yàn)楸粰z對(duì)象結(jié)構(gòu)的復(fù)雜性以及視覺誤差等諸多因素，容易出現(xiàn)人為選點(diǎn)誤差，從而造成測(cè)量結(jié)果有較大的偏差。而3D相位掃描測(cè)量法的測(cè)量探頭與常規(guī)探頭不同，探頭與鏡頭內(nèi)置光柵電學(xué)連接，3D相位測(cè)量技術(shù)通過光柵掃描被測(cè)物表面，獲取3D相位測(cè)量圖像，確定每個(gè)點(diǎn)的唯一坐標(biāo)，并在后臺(tái)可建立3D點(diǎn)云圖形及深度圖，可通過點(diǎn)云圖判斷打點(diǎn)的位置，從而大大降低了人為選點(diǎn)失誤的概率。
如下圖所示，為傳統(tǒng)雙物鏡測(cè)量葉片邊緣掉塊的示意圖。為了保證測(cè)量精度，通常在盡可能靠近葉片邊緣處選點(diǎn)。圖中選點(diǎn)看似準(zhǔn)確，應(yīng)該是選在該級(jí)葉片上，但實(shí)際情況是選在了發(fā)動(dòng)機(jī)機(jī)匣上，構(gòu)成了空間的點(diǎn)到線測(cè)量，造成了測(cè)量誤差。這種情況在采用傳統(tǒng)雙物鏡測(cè)量法時(shí)難免發(fā)生，肉眼難以分辨，測(cè)量結(jié)果自然不準(zhǔn)確。
采用3D技術(shù)可以解決這一問題。針對(duì)上述情況，如果采用3D相位測(cè)量技術(shù)，可以構(gòu)建3D點(diǎn)云圖形，并協(xié)助判斷打點(diǎn)位置，如下圖所示，可以看出之前所選的靠下位置的點(diǎn)已經(jīng)脫離該級(jí)葉片的表面，實(shí)現(xiàn)上是位于下一級(jí)葉片上。糾正后的正確選點(diǎn)位置如圖中綠色線條所示，通過及時(shí)發(fā)現(xiàn)選點(diǎn)誤差并加以修正，從而得到正確的測(cè)量結(jié)果。
韋林工業(yè)內(nèi)窺鏡Mentor Visual iQ，不僅支持單物鏡的三維立體相位掃描測(cè)量，也支持三維立體雙物鏡測(cè)量技術(shù)，這在業(yè)內(nèi)其他同類產(chǎn)品中都是做不到的。韋林工業(yè)內(nèi)窺鏡搭載3D相位掃描測(cè)量法，可通過點(diǎn)云圖，精準(zhǔn)選點(diǎn)，避免引入人為誤差，測(cè)量結(jié)果更準(zhǔn)確！
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